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名稱:科研級.薄膜測厚儀,精度0.1um. 薄膜測厚儀,膜厚儀,膜厚測試儀,紙張測厚儀
CM90,是科研級的薄膜測厚儀. 1.可以檢測,塑料薄膜,薄片,隔膜,紙張,箔片,硅片 2.精度可以達到0.1um. 3.實時顯示測量結(jié)果的大值,小值,平均值以及標準偏差等數(shù)據(jù). 4.數(shù)字顯示,也可以加配電腦,做分析用. 5.可以自動進樣,每隔一定距離自動采點. 測試范圍: 0-2mm(常規(guī)), 0-6mm;12 mm(可選) 分辨率: 0.1um 測量速度: 10次/min,可調(diào) 測量壓力: 17.5±1 KPa(薄膜), 50±1 KPa(紙張) 接觸面積: 50mm2(薄膜), 200mm2(紙張) 接觸面積: 備注,薄膜,紙張任選一種,非標可定制 進樣步距: 0 - 1000mm 標準:滿足ISO,GB,ASTM等十多個國標標準. 聯(lián)系電話,021-6573 0171 |
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